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希薄系ゼータ電位・粒度分布測定装置(ZC-3000)

【分散安定性評価の指標となるゼータ電位を粒子1個単位で解析する】

本装置は、粒子表面の電気的状態を示すゼータ電位をカメラ観察により測定する装置です。粒子1つ1つの挙動を直接観察しながらゼータ電位や粒度分布を解析でき、測定結果を直感的に理解できます。

分散系の安定性評価や凝集・沈降挙動解析など、スラリー・インク・ナノ粒子材料の研究開発・品質管理として幅広く活用可能な装置です。

測定可能な項目<評価例>

○ゼータ電位 <基礎物性評価、材料・ロット間の比較評価>
○沈降・浮上速度 <凝集塊や粗大粒子の沈降速度測定、バブルや中空粒子の浮上速度測定>
○pH滴定 <等電点測定>
○粒度分布 <一次粒子径の把握、分散液中における凝集有無の確認>

測定種 アプリケーション内容
ゼータ電位
ゼータ電位測定における希釈液の重要性 ▶ 詳細はこちら
光学系のゼータ電位計では、試料を適切な濃度に希釈する際に正しい希釈液を用いることが重要です。
<分散液(懸濁液、スラリー)、分散剤(添加剤)、希釈、希薄、光学>
ゼータ電位
分散媒の違いによるゼータ電位の差異 ▶ 詳細はこちら
同じ粉体でも分散させる溶媒に応じてゼータ電位が異なることを当社のゼータ電位計で確認します。
<分散液(懸濁液、スラリー)、分散媒(溶媒、液体)、希薄、物性、ゼータ電位>
ゼータ電位
粒度分布
可視化測定によるファインバブルの評価 ▶ 詳細はこちら
本研究では、ファインバブルのゼータ電位および粒子径を4種類の光源を用いたカメラ観測によって評価します。
<ファインバブル、粒子径(粒度分布)、ブラウン運動、洗浄、希薄系>

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